Em virtude da alteração da programação, a palestra sobre os exames TOEFL e GRE que estava prevista para ser realizada em dois horários diferentes,  na próxima quinta-feira, 13 de junho, ocorrerá apenas na parte da tarde, das 16h00 às 17h30, no auditório 3 da FACE, campus Pampulha.

Na ocasião, a consultora e representante dos exames TOEFL e GRE no Brasil, Adiane Blum apresentará com detalhes os formatos e as pontuações dos dois principais exames exigidos pelas universidades estrangeiras no processo de admissão: o Toefl iBT, exame reconhecido e aceito em milhares de instituições em mais de 130 países, e oGRE® Revised General Test, exame utilizado como um dos critérios de admissão em diversos programas de mestrado,  doutorado e pós-doutorado nos Estados Unidos e em países europeus.

Além disso, Adiane Blum que já frequentou o curso de Mestrado da Universidade de Washington, Estados Unidos, irá relatar sua experiência no exterior e repassar informações sobre bolsas de estudos em universidades estrangeiras, e o processo de inscrição para as mesmas.

Aberto ao público em geral, o evento não exige inscrição prévia.

Data: 13 de junho de 2019 (quinta-feira)

Horário: 16h00 às 17h30

Entrada: Gratuita

Local: Auditório 3 da Faculdade de Ciências Econômicas (FACE)